Markov Random Field Modeling in Image Analysis - Stan Z. Li


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Autor: Stan Z. Li


Colección 'Computer Science Workbench'. Tapa Blanda. Profusamente ilustrado.9784431703099. Springer. Japón. 2001. 24x16 centímetros. 323 páginas. Tapa blanda. Estado=Bien. Inglés.
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